线材测试仪常见问题及不良原因分析

发布时间：2022-05-02   浏览次数：10

　   测试过程中常见问题一：

　　1.断路：

　　塬因：A.治具B.线材C.仪器

　　2.导通不良：

　　原因：

　　A.治具接触电阻大

　　B.治具与线材的接触电阻

　　C.仪器内阻(归零解决)

　　3.绝缘不良：

　　原因：

　　A.治具较脏，湿度大

　　B.线材材料与制作工艺问题

　　C.仪器Relay板较脏，可作空测或清洁工作

　　六、CT-8687不良塬因分析

　　1.导通不良：XCONDNET001(A01)*B01HILIMT

　　XCONDNET001(A01)*3.5Ω

　　2.开路，短路：OPENA01：B01

　　SHORTA01→A04

　　3.电容不良：XCINC33→C34(1.00N)HILIMIT

　　XCINC33→C34(1.00N)2.00μF

　　4.电阻不良：XR1A01→A02(1.0Ω)HILIMIT

　　XR1A01→A02(1.0Ω)10.5Ω

　　5.二极管不良：D0.8C49→C50(1.80V)7.5V

　　D1.7C49→C50(1.70V)2.9V

　　6.绝缘不良：XINSUL(MOED3)=ARCING

　　XINSULNET003(A09)=1.9MΩ

　　7.瞬间短断路不良：OPENA01：A02(INTERM)

　　SHORTC15→C17(INTERM)

　　8.误配：M.W.B36*B38

　　注：此项不可分辩误配端点，即此显示不表示在B36、B38点误配。